共焦点・超解像顕微鏡 TCS SP8 STED
概要
特色
共焦点レーザースキャン顕微鏡TCS SP8を使用した共焦点画像の取得、LIGHTNINGによる共焦点超解像画像の取得、STED(誘導放出制御)法による超解像画像の取得が可能な顕微鏡です。付属装置として、顕微鏡培養装置(CO2や温度を制御)、画像解析ソフトウェア(デコンボリューション、高精細3D/4D解析、AI解析等)を備えています。 ※後継機種(3D超解像・蛍光寿命イメージングシステム STELLARIS 8 FALCON STED 3X)の運用を開始しました(2025.9)。
参考URL
利用事例論文リスト
主な仕様
| 顕微鏡本体 | 倒立顕微鏡 |
| 観察環境 | ・室温下での観察(23℃エアコン制御) ※温度・湿度・CO2制御下での観察が可能です。 制御可能範囲は付属装置のページをご参照ください。 |
| レーザー光源 | ・ホワイトライトレーザー(WLL): 470-670 nm内で任意の励起波長を選択可能 ・Arレーザー: 458 nm, 476 nm, 488 nm, 496 nm, 514 nm ・405 nm ダイオードレーザー ・592 nm STED消光用レーザー |
| 検出器 | ・spectral detector ・HyD 3台 & PMT検出器2台 ⇒計5チャンネルでの蛍光データー取得が可能 ・可視像用 PMT検出器 |
| スキャナー | ・FOVスキャナー: 広視野、高解像度 ・タンデムスキャナー: FOVスキャナーとレゾナントスキャナーの組み合わせによる高速スキャンが可能 (12000 Hz) |
| ステージ | ・XYZ電動 ・ガルボフローモード(スーパーZガルバノステージを用いた高速スタッキング) |
| 対物レンズ | HCX PL APO CS 10x/0.40 DRY (WD=2200 μm) HC PL APO CS2 20x/0.75 IMM (WD= 680 μm) HC PL APO CS2 40x/1.30 OIL (WD= 240 μm) HC PL APO CS2 63x/1.40 OIL (WD= 140 μm) HCX PL APO 100x/1.40 OIL (WD= 100 μm) |
| ソフトウェアアプリケーション | ・3D 画像の取得 ・タイムラプス: 4D撮影が可能。AFC (Adaptive Focus Control) 機能有り ・FRAP ・FRET |
| 分解能(xy) | 【共焦点観察】 200 nm 【共焦点超解像観察】 ・LIGHTNING: 120 nm 【超解像観察】 ・STED (Gated STED): 50 nm程度 |
| 解析ソフトウェア | ・LAS X (Leica Microsystems社) ・Huygens Professional ver.17.10 (Scientific Volume Imaging社) ・Imaris 10.2 (BITPLANE社) ・Aivia 14(Leica Microsystems社) ※ソフトウェアのみの利用も可能です。 |
タンデムスキャナーとHyD(Hybrid Detector)の併用により、低いレーザーパワーで、細胞ダメージの少ない、高速のコンフォーカルイメージングが可能です。また、ホワイトライトレーザーを使用したスペクトラルフリーなイメージングにより、観察に最適な条件を設定できます。
ご利用方法・注意事項
自主測定(装置をご利用の場合)
ご利用方法
はじめに、機器の利用登録をお願いいたします。 その後の流れは、利用形態によって異なります。以下のいずれかをご選択の上、担当職員までご連絡ください。
高頻度利用分野 <月4回以上の利用が想定される研究分野、等>
最初に、操作講習会を受講してください。 教職員(学術研究員等を含む)の受講が必須で、学生のみの受講は不可となります。 講習会は、随時受け付けておりますので、研究分野単位でお申し込みください。 講習会受講後、操作に習熟されるまでの間は職員が立ち会います(事前に日程調整をお願いします)。立会無しで利用を開始できるのは、操作を習得されたことを職員が確認してからになります。ご経験により異なりますが、たいてい1~3回程の立ち会いの後、ご自身での利用へと移行されています。 操作を習得された後は、講習会受講者を中心に、各研究分野の教員の責任の元、装置をご利用ください。 ご予約は、装置予約システムにて空き状況をご確認の上、ご自身でお取りください。時間外(平日9時以前・17時以降、土日祝日)の利用も可能です。 ※教職員が操作講習会へ参加出来ない場合は、原則、【高頻度利用分野】としての利用はできません。この場合は、【低頻度利用分野】としてご利用ください。
低頻度利用分野 <数回で利用終了の研究分野、頻度が低い研究分野、等>
利用時は、毎回、職員が立ち会い、顕微鏡操作/操作支援を行います。 事前の操作講習会参加は必須ではありません。操作に習熟していなくても顕微鏡をご利用いただけます。 (注意:画像取得の受託支援ではありません。正確なデータ取得・解析のため、操作や撮影条件等を一緒に確認しながら観察・画像取得を行います。そのため、初回利用時には撮影条件の各種設定項目について概略を説明しておりますことをご理解頂きますようお願いいたします。) ご予約の際は、職員まで希望日時をご連絡ください。日程調整後、予約をお取りします。 職員立会枠は、週に1~2枠程です。予約が集中する時期は、希望日時での利用が 難しい場合もございます。
装置利用料
3,400円/時間 測定以外に解析等で使用する場合においても装置の占有期間中は利用しているものとします。 装置の修理等が発生した場合、料金が改定されることがあります。 職員立会による利用の際は、依頼料がかかります(19,000円/件)
観察準備について
- スライドガラス、35mmディッシュ、プレート、チャンバー等で観察出来ます。ただし、ディッシュ等は、必ずガラスボトムのものをご準備ください。
- サンプル調整のための消耗品(スライドガラス、カバーガラス、ガラスボトムディッシュ、カバーガラス固定用マニキュア等)は顕微鏡室に備えておりません。各自ご準備ください。油浸オイル、レンズ洗浄用エタノール、レンズクリーニングペーパー、レンズクリーニング用綿棒、キムワイプ、キムタオル、キッチンタオル、70% エタノールは、顕微鏡室に常備しております。
- STED観察のためには、特定の条件でのサンプル調整が必要となります。サンプル調整ガイドをお送りしますので、事前にお問い合わせください。
観察前サンプルの一時保管について
実験室内に顕微鏡試料保管用インキュベーター類を備えています。支援センターの顕微鏡を利用される際は無料でお使いいただけます。利用前に簡単な説明をしておりますので、ご利用の際は装置担当までお尋ねください。

